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Magnetic force microscopy

Magnetkraftmikroskopie (MFM) ist eine Technik, um Magnetfelder auf Submikron-Skala sichtbar zu machen.

Diese Technik wird unter anderem in der Forschung zu Festplatten und Magnetbänder. Ein sehr kleiner magnetfeldempfindlicher Sensor bewegt sich in sehr geringer Höhe über dem Messobjekt und registriert die Feldstärke in Abhängigkeit von der Position. Das Problem dabei ist, dass die Nadel gleichzeitig Unebenheiten in der Oberfläche und magnetische Feldstärke an der Oberfläche registriert. Um diese voneinander zu trennen, werden verschiedene Techniken verwendet. Allen Techniken ist gemeinsam, dass das Höhenprofil und das Magnetprofil getrennt nacheinander gemessen werden.

MFM wird seit 1987 verwendet; es ist eine form von Rastersondenmikroskopie.